Filtrování publikací

    2008

    1. Composite Porous Silicon-Crystalline Silicon Cantilevers for Enhanced Biosensing
      STOLYAROVA, Sara, Cherian SUMAN, Roberto RAITERI, Jiří ŽERAVÍK, Petr SKLÁDAL a Yael NEMIROVSKY. Composite Porous Silicon-Crystalline Silicon Cantilevers for Enhanced Biosensing. Sensors and Actuators B Chemical. Amsterdam (Holandsko): Elsevier, 2008, roč. 131, č. 1, s. 509-515. ISSN 0925-4005.
      Název česky: Kompozitní kantilevry na bázi porézního křemíku a krystalického křemíku pro vylepšení biosensorů
      RIV/00216224:14310/08:00025703 Článek v odborném periodiku. Biochemie. angličtina. Nizozemské království.
      Stolyarova, Sara (376 Izrael) -- Suman, Cherian (356 Indie) -- Raiteri, Roberto (380 Itálie) -- Žeravík, Jiří (203 Česká republika) -- Skládal, Petr (203 Česká republika, garant) -- Nemirovsky, Yael (376 Izrael)
      Klíčová slova anglicky: Porous silicon; Microcantilever; Antibody; Silanization; Fluorescence label
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: prof. RNDr. Petr Skládal, CSc., učo 2202. Změněno: 29. 6. 2009 16:24.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/750333/cs

    2005

    1. Intersubband absorption of strain compensated, Si1-xGex valenceband quantum wells with 0.7<=x<=0.85
      FROMHERZ, Thomas, Mojmír MEDUŇA, Günther BAUER, Alex BORAK, Claudiu FALUB, Soichiro TSUJINO, Hans SIGG a Detlev GRÜTZMACHER. Intersubband absorption of strain compensated, Si1-xGex valenceband quantum wells with 0.7<=x<=0.85. J. Appl. Phys. USA: American Institute of Physics, 2005, roč. 98, č. 4, s. 044501-1 - 044501-7, 7 s. ISSN 0021-8979.
      Název česky: Mezipásová absorbce napěťově kompenzovaných kvantových jam Si1-xGex s 0.7<=x<=0.85 ve valennčím pásu
      RIV/00216224:14310/05:00013134 Článek v odborném periodiku. Fyzika pevných látek a magnetismus. angličtina. Spojené státy.
      Fromherz, Thomas (40 Rakousko) -- Meduňa, Mojmír (203 Česká republika, garant) -- Bauer, Günther (40 Rakousko) -- Borak, Alex (756 Švýcarsko) -- Falub, Claudiu (642 Rumunsko) -- Tsujino, Soichiro (392 Japonsko) -- Sigg, Hans (756 Švýcarsko) -- Grützmacher, Detlev (276 Německo)
      Klíčová slova anglicky: X-RAY REFLECTION; CASCADE STRUCTURES; POROUS SILICON; ELECTROLUMINESCENCE; EMITTERS; NARROW
      Mezinárodní význam: ano
      Recenzováno: ano
      Změnil: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D., učo 7898. Změněno: 14. 2. 2007 09:40.
      Podrobněji: https://is.muni.cz/publication/617904/cs
Zobrazeno: 17. 6. 2025 06:10